Infraestructura Actual

MICROSCOPIO ELECTRONICO DE TRANSMISION DE EMISIÓN DE CAMPO, JEM-2200FS Cañón de emisión de campo de 200 kV Resolución punto a punto: 0.19 nm en modo TEM Resolución punto a punto: 0.10 nm en modo STEM Corrector de aberración esférica en STEM Filtro de energía tipo Omega Sistema EDS Inca Sistema EELS GAT-777 STEMPACK Detector HAADF para imágenes de Contraste Z Cámara UltraScan 2k x 2k Portamuestras: calentamiento, enfriamiento, doble inclinación. [+] más información.
MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE TRANSMISIÓN, PHILIPS CM-200 Filamento de hexaboruro de lantano Voltaje máximo de aceleración: 200 kV Máxima resolución punto a punto: 0.27 nm Modos TEM/STEM Sistema EDS Sistema PEELS 766 Sistema de adquisición de imágenes CCD Portamuestras de calentamiento [+] más información.
MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO DE EMISIÓN DE CAMPO, JSM-7401F Cañon de emisión de campo en frio (cold FE) de 30 kV Resolución: 1.0nm (15kV) 1.5nm (1.0kV) Voltaje acelerador: 0.1 a 30 kV Detectores de electrones secundarios y retractable de retrodispersados Detectores “in-lens” con filtro “r” Modo haz atenuado (gentle beam) Detector de modo STEM Sistema EDS [+] más información.
MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO DE EMISIÓN DE CAMPO, Nova 200 NanoSEM Cañon de emisión de campo de 30 kV Modo alto y bajo vacío Resolución: 1 nm a 30 kV (Alto vacío) 1.5 nm a 10 kV (Bajo vacío) Voltaje Acelerador: 200 V a 30 kV Detectores: Detector de electrones secundarios Detector de electrones retrodispersados Detector modo STEM Sistema EDS [+] más información.
MICROSCOPIO ELECTRÓNICO DE BARRIDO, JSM 5800-LV Filamento de Tungsteno Modo de alto y bajo vacío. Resolución: 3.5 nm (alto vacío) 5 nm (bajo vacío) Voltaje Acelerador: 0.3 a 30 kV Detectores de electrones secundarios y retrodispersados Sistema EDS Sistema de difracción con electrones retrodispersados (EBSD) [+] más información.
HAZ DE IONES ENFOCADOS, JEM-9320FIB Fuente de iones de Galio líquido Voltaje de aceleración: 5 a 30 kV (en pasos de 5 kV) Resolución de Imagen: 6 nm (30 kV) Corriente máxima de haz: 30 nA Nanomanipulador Omniprobe 200 [+] más información.
Difractómetro de rayos X, Marca Panalytical, Modelo: Xpert’PRO Con este difractómetro de rayos X es posible trabajar muestras en forma de polvo, láminas y películas delgadas. Cámara de calentamiento en la cual se puede alcanzar una temperatura de 2000°C. Alto vacío (bombas rotatoria y turbo). El detector X’Celerator es muy rápido (multicanal con 100 detectores). Atmósfera controlada. Software con una amplia base de datos: ICDD con 186 000 compuestos inorgánicos y orgánicos. La indización se realiza mediante Highscore, basado en el método de Rielveld. [+] más información.
MICROSCOPIO DE FUERZA ATÓMICA VEECO SPM MultiMode Microscopio con Cabezal MultiMode SPM (Tapping, Contacto, STM). Controlador NanoScope versión IVa. Ruido > 0.3 Ǻ RMS en eje Z, con aislamiento de vibraciones. Tamaño de muestra ≤ 15 mm en diámetro, ≤ 5 mm en espesor. Aislamiento de vibraciones: cubierta acústica, mesa de aislamiento de vibración integrada (> 1 Hz) Sistema de visión óptico. [+] más información.